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XRD平板探測器,X射線數字成像檢測系統是基于8英寸非晶硅傳感器的二維光電二極管陣列,具有200微米像素尺寸,接收區域200mm*200mm,X射線通過閃爍屏轉換為光電子并被光電二極管轉化為數字信號,16位數字化信息可實現高動態范圍及對比度,使檢測圖像邊界輪廓清晰。
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XRD 0822 AP X射線數字平板探測器是基于8英寸非晶硅傳感器的二維光電二極管陣列,具有200微米像素尺寸,成像區域200mm*200mm,X射線通過閃爍屏轉換為光電子并被光電二極管轉化為數字信號,16位數字化信息可實現高動態范圍及對比度,使檢測圖像邊界輪廓清晰、質量媲美膠片。
XRD 0822 AP X射線數字平板探測器具有檢測速度快(非像素合并時幀速可達25fps)、可接收320kV的X射線直接照射等特點,被廣泛應用于工業領域X射線檢測。
技術參數
● 面板 轉換屏 DRZ-PLUS
像素數目 1024×1024
像素間距 200µm
動態范圍 ≥88db
灰度等級 65536(16bit)
幀速度 25fps @200µm
50fps @400µm
能量范圍 20~450Kev
● 電子設備 電荷放大器 8×128通道ASIC
增益調節 0.25/0.5/1/2/4/8pF共6級可設置
ADC轉換 16bit
非線性 ≤1%